高低温冲击应力筛选试验箱 用途：
高低温冲击快速温变试验箱对不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)
高低温冲击应力筛选试验箱 特点：
1、可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；
2、等均温速率赛思可设定范围5℃～30℃/min(40℃/min)；
3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求；
4、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；
5、除霜周期三天除霜一次，赛思每次除霜只需1小时完成；
6、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；
7、感测器放置测试区出（回）风口赛思设计符合实验有效性；
8、机台多处报警监测，配置无线远程报警功能；
高低温冲击应力筛选试验箱 技术优势：
传统设备低温控制方式：制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）制冷压缩机恒定运行+加热PID控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）新型PWM冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM技术控制调节制冷机组制冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。
高低温冲击应力筛选试验箱 标准：满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。
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产品&规范 |
厂商名称 |
高温 |
低温 |
温变率 |
循环数 |
循环时间 |
备注 |
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MIL-STD-2164、GJB-1032-90 |
—— |
工作极限温度 |
工作极限温度 |
5℃/min |
10～12 |
3h20min |
—— |
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MIL-344A-4-16 |
设备或系统 |
71℃ |
-54℃ |
5℃/min |
10 |
—— |
—— |
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MIL-2164A-19 |
—— |
工作极限温度 |
工作极限温度 |
10℃/min |
10 |
—— |
驻留时间为内部达到指定温度10℃时 |
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NABMAT-9492 |
设备或系统 |
55℃ |
-53℃ |
15℃/min |
10 |
—— |
驻留时间为内部达到指定温度5℃时 |
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GJB/Z34-5.1.6 |
组件 |
85℃ |
-55℃ |
15℃/min |
≧25 |
—— |
达到温度稳定的时间 |
|
GJB/Z34-5.1.6 |
设备或系统 |
70℃ |
-55℃ |
5℃/min |
≧10 |
—— |
达到温度稳定的时间 |
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笔记本电脑 |
主板厂商 |
85℃ |
-40℃ |
15℃/min |
—— |
—— |
—— |
高低温冲击应力筛选试验箱 技术规格：
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型号 |
SER-A |
SER-B |
SER-C |
SER-D |
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内箱尺寸 |
40×35×35 |
50×50×40 |
60×50×50 |
70×60×60 |
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外箱尺寸 |
140×165×165 |
150×200×175 |
160×225×185 |
170×260×193 |
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温度范围 |
-80.00℃～+200.00℃ |
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低温冲击范围 |
-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ |
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高温冲击范围 |
+60.00℃～+150.00℃ |
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时间设定范围 |
0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment |
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温度波动度 |
≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） |
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温度偏差 |
≤±2℃（-65℃～+150℃） |
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温度均匀度 |
＜2.00℃以内 |
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温变速率（斜率） |
+5℃～+30℃/min(+40℃) |
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温变范围 |
-55℃～+85℃//+125℃ |
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