高低温冲击试验箱结构及基本用途
日期：2024-08-24 23:15
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摘要：
高低温冲击试验箱结构及用途
仪器结构
仪器结构
1、试验箱结构形式：试验箱采用整体式组合结构形式，既试验箱由位于后下部的高温试验箱，位于后上部的高低温冲击试验箱体位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜（系统）所组成。此方式箱体占地面积小结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内。
基本用途
高低温冲击试验箱适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），适应于仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.
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