HAST高压加速老化试验箱用 途:HAST Chamber又名HAST高压加速寿命老化试验箱,用于车规级芯片,IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的密封性和老化性能。
应用领域:
PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片……
HAST高压加速老化试验箱特 点:
◆ 真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性;
◆ 超长效实验运转时间,长时间实验机台运转300小时;
◆ 干燥设计,试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥;
◆ 水位?;?,透过炉内水位Sensor检知?;?;
◆ 耐压设计,箱体耐压力(140℃)2.65kg,符合水压测试6k;
HAST高压加速老化试验箱满足标准:
AEC Q101(车规级芯片)
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)
JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)
HAST高压加速老化试验箱技术规格:
型号
SEST-S250
SEST-S350
SEST-S450
SEST-S550
工作室尺寸(cm)
? 25×35
? 30×45
? 40×55
? 50×60
性
温度范围
+100℃~+132℃ / +145℃ / +150℃
湿度范围
100%RH饱和蒸汽(不可调)// 65%RH~100%RH非饱和蒸汽(可调)
温度均匀度
≤2℃
湿度均匀度
≤±5%RH
压力范围
1.2~2.89kg(含1atm)
加压时间
约45/Min
温度控制器
中文彩色触摸屏+ PLC控制器(SETH/控制软件)
循环方式
强制对流循环方式
结构
标准压力容器
加湿系统
电热管
加湿用水
蒸馏水或去离子水(自动补水)
Bias偏压端子
含偏压端子(选配订购时需注明)
加压方式
1.锅炉蒸汽加压;2.外部气体加压
材料
外壳材料
冷轧钢板静电喷塑(SETH/标准色)
内壁材料
SUS316不锈钢板
保温材料
玻璃纤维棉
电压
220V~240V 50/60HZ单相
能