阳光模拟试验箱_高低温试验箱_高低温冲击试验箱_快速温变试验箱|东莞市赛思检测设备有限公司

  • 产品名称:绝缘劣化及离子迁移特性评价系统

  • 产品型号:SIR13
  • 产品厂商:其它品牌
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简单介绍:
绝缘劣化及离子迁移特性评价系统面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘不好现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
详情介绍:

绝缘劣化及离子迁移特性评价系统 用 途:

面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘不好现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。

绝缘劣化及离子迁移特性评价系统适用标准:

JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。

绝缘劣化及离子迁移特性评价系统 技术规格:


产品名称

绝缘劣化及离子迁移特性评价系统

型号

SIR13

120V基板

250V基板

500V基板

1000V基板

基板测试部

测试电阻范围

320Ω120TΩ

320Ω2.5TΩ

320Ω250TΩ

320Ω500TΩ

320Ω1000TΩ

测试通道数

8ch/基板

16ch/基板

8ch/基板

连接电缆

2根一对/基板

4线式

2根一对/基板

加载测试电缆×2

2根一对/基板

加载电缆×1、测试电缆×1

电气特性

加载电压

电压量程1

0.10V120.00V

0.1V250.0V

1.0V500.0V

1.0V1000.0V

电压量程2

0.100V12.000V

--

--

--

加载设定分辨率

0.10V/0.001V

0.1V

基本加载精度

±0.3%/FS

±0.3%/FS + 0.5V/FS

较大输出功率

96mW/ch

256mW/8ch

300mW/ch

加载组数

1组(1ch/1组)

2组(8ch/1组)

1组(8ch/1组)

加载量程

2量程

1量程

加载通道数

1ch

8ch

较大负载容量

2.0μF/1ch

0.47μF/8ch

3300pF/1ch

显示器量程

2量程

1量程

显示器

范围

电压量程1

0.00V120.00V

0.0V250.0V

0.0500.0V

0.0V1000.0V

电压量程2

0.000V12.000V

--

--

--

显示器分辩率

0.10V/0.001V

0.1V

基本显示器精度

±0.3%/FS

±0.3%/FS + 0.5V/FS

显示器分割单位

1ch

1组或1ch

1ch

显示器周期

40ms

显示器通道数

8ch

16ch

8ch

测试量程

3量程

2量程

3量程

显示器

范围

电流量程1

0.00μA320.00μA

电流量程2

0.0000μA3.2000μA

电流量程3

0.00nA32.000nA

--

0.000nA32.000nA

量程设定

320.00μA·3.2000μA

·32.000nA·自动

320.00μA·3.2000μA·自动

320.00μA·3.2000μA·32.000nA·自动

测试较小分辨率

电流量程1

10nA

10nA

10nA

电流量程2

100pA

100pA

100pA

电流量程3

1pA

1pA

1pA

基本测试精度

±0.3%/FS

通道数

8ch

16ch

8ch

数据收录周期

定期30s(较小)/离子迁移时40ms(较?。?/span>

离子迁移测试速度

40ms

漏泄检出

400μs/ch

测试周期

40ms

其他功能

自己诊断

外接标准电阻诊断 选配

连锁

箱体门打开时,测试自动中断功能 选配

断线检出

端子断线检出功能

--

试验槽内温湿度收录

追加温湿度测试基板、借助3CS·keyless软件较大可以收录4个槽的数据 选配

样品温度收录

通过3CS SMU 每个通道能够收录1个点 选配

系统较大构成

SIR13

80ch10基板)

160ch10基板)

80ch10基板)

SIR13mini

24ch3基板)

48ch3基板)

24ch3基板)

控制部

系统控制电脑

Windows XP Pro.SP2适于Windows2000 Pentium 500MHz以上 内存256Mbyte以上

测试部的连接

GP-IB Ethernet

其他

停电对策

停电发生前保存收录数据,并且通电后能够继续收录 不停电电源必须

控制单元

结构类型

SIR13

SMU 10插槽式

外形尺寸:W430×H300×D620 不包含突起部分

重量:约30kgSMU 10枚配备时)

消耗电流:5A以下(100V使用时)

SIR13mini

SMU 3插槽式

外形尺寸:W220×H370×D390 不包含突起部分

重量:约20kgSMU 3枚配备时)

消耗电流:2A以下(100V使用时)

耐噪声能力

1μs脉冲 2KV  1分钟

绝缘电阻

DC500V 100MΩ以上

使用电源

AC85V264V 50/60Hz

使用环境

温度+10+40 湿度75%RH以下(无结露)

保存环境

温度-10+ 60

绝缘劣化及离子迁移特性评价系统 产品图片

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